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            MOS管常見的5類損壞原因解析

            發布日期:2019-01-09 點擊次數:1214
            第一種:雪崩破壞
                如果在漏極-源極間外加超出器件額定VDSS的電涌電壓,而且達到擊穿電壓V(BR)DSS (根據擊穿電流其值不同),并超出一定的能量后就發生破壞的現象。
                在介質負載的開關運行斷開時產生的回掃電壓,或者由漏磁電感產生的尖峰電壓超出功率MOSFET的漏極額定耐壓并進入擊穿區而導致破壞的模式會引起雪崩破壞。
                典型電路:




             第二種:器件發熱損壞
                由超出安全區域引起發熱而導致的。發熱的原因分為直流功率和瞬態功率兩種。
                直流功率原因:外加直流功率而導致的損耗引起的發熱
                ●導通電阻RDS(on)損耗(高溫時RDS(on)增大,導致一定電流下,功耗增加)
                ●由漏電流IDSS引起的損耗(和其他損耗相比極?。?/span>
                瞬態功率原因:外加單觸發脈沖
                ●負載短路
                ●開關損耗(接通、斷開) *(與溫度和工作頻率是相關的)
                ●內置二極管的trr損耗(上下橋臂短路損耗)(與溫度和工作頻率是相關的)
                器件正常運行時不發生的負載短路等引起的過電流,造成瞬時局部發熱而導致破壞。另外,由于熱量不相配或開關頻率太高使芯片不能正常散熱時,持續的發熱使溫度超出溝道溫度導致熱擊穿的破壞。







            第三種:內置二極管破壞
                在DS端間構成的寄生二極管運行時,由于在Flyback時功率MOSFET的寄生雙極晶體管運行,導致此二極管破壞的模式。


            第四種:由寄生振蕩導致的破壞
                此破壞方式在并聯時尤其容易發生
                在并聯功率MOS FET時未插入柵極電阻而直接連接時發生的柵極寄生振蕩。高速反復接通、斷開漏極-源極電壓時,在由柵極-漏極電容Cgd(Crss)和柵極引腳電感Lg形成的諧振電路上發生此寄生振蕩。當諧振條件(ωL=1/ωC)成立時,在柵極-源極間外加遠遠大于驅動電壓Vgs(in)的振動電壓,由于超出柵極-源極間額定電壓導致柵極破壞,或者接通、斷開漏極-源極間電壓時的振動電壓通過柵極-漏極電容Cgd和Vgs波形重疊導致正向反饋,因此可能會由于誤動作引起振蕩破壞。


            第五種:柵極電涌、靜電破壞
                主要有因在柵極和源極之間如果存在電壓浪涌和靜電而引起的破壞,即柵極過電壓破壞和由上電狀態中靜電在GS兩端(包括安裝和和測定設備的帶電)而導致的柵極破壞



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